Boundary Scan vor der Produktion absichern
Boundary Scan Analysis hilft dabei, die JTAG-Infrastruktur frühzeitig zu verifizieren und die erreichbaren Pins in einer Baugruppe systematisch zu bewerten. Gerade in komplexen Designs ist das entscheidend, um Testzugriffe, Geräteanbindung und mögliche Lücken in der Testabdeckung zuverlässig zu erkennen.
PCB-Investigator bietet dafür einen strukturierten Workflow: Komponenten, Netze und Probes werden in einer klar gegliederten Oberfläche vorbereitet, während die Analyseergebnisse zentral verwaltet werden können. Wenn bereits eine DFT-Session vorbereitet wurde, lassen sich die vorhandenen Informationen direkt importieren und weiterverwenden.
Von der Komponente bis zur Teststrategie
Ein wesentlicher Vorteil ist die flexible Vorbereitung der Bauteile. Boundary-Scan-Geräte benötigen ein BSDL-basiertes Modell, andere aktive Komponenten können mit digitalen Ein- oder Ausgangsmodellen abgebildet werden. Passive Bauteile wie Widerstände, Dioden, Jumper oder Kondensatoren werden mit passenden passiven Modellen berücksichtigt.
Über die Komponentenansicht lassen sich BSDL-Informationen importieren und die JTAG-Pins wie TCK, TMS, TDI, TDO und optional TRST überprüfen. Zusätzlich können Testzugänge über Connector- oder Header-Pins als Probes definiert werden, um reale Zugangspunkte im Aufbau abzubilden.
Wer die Testinfrastruktur früh validiert, spart später Aufwand in Diagnose, Debugging und Produktionsfreigabe.
Mehr Transparenz für DFT und Testentwicklung
- Import von DFT-Sessions zur Wiederverwendung bestehender Daten
- Prüfung der BSDL-Zuordnung und JTAG-Pinbelegung
- Definierte Probes und Exit-Pins für realistische Pfadanalysen
- Zentrale Verwaltung von Analyseergebnissen im Result Manager
So wird aus einer komplexen Boundary-Scan-Umgebung ein nachvollziehbarer Analyseprozess. Mehr zur Boundary Scan Analysis finden Sie in der PCBI-Dokumentation.
